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Ficha técnica• Autor: López, Joan
• Páginas: 440
• Formato: 23 x 17 cm
• Encuadernación: Tapa blanda
• ISBN: 9786077071600
SinopsisEn este libro se estudian de desde sus principios los diferentes fenómenos en los que intervienen campos eléctricos y magnéticos, en particular la Compatibilidad electromagnética (CEM) o Electromagnetic Compatibility (EMC), así como la seguridad funcional en sistemas electrónicos, debido a que todas las tecnologías electrónicas son vulnerables a errores y fallos de funcionalidad causados por interferencias electromagnéticas.